遠紅外熱成像儀是由光學(xué)系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成，光學(xué)系統(tǒng)匯聚其視場內(nèi)的目標(biāo)紅外輻射能量，視場的大小由測溫儀的光學(xué)零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上并轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電信號。該信號經(jīng)過放大器和信號處理電路，并按照儀器內(nèi)療的算法和目標(biāo)發(fā)射率校正后轉(zhuǎn)變?yōu)楸粶y目標(biāo)的溫度值。

　　下面小編要為您介紹的是遠紅外熱成像儀的不同測量方法：

　　1、全輻射測溫法

　　根據(jù)測量波長從零到無限大整個光譜范圍物體的總輻射功率用黑體定標(biāo)的儀器來確定物體的溫度。其總輻射功率的大小與被測對象溫度之間的關(guān)系是由斯蒂芬-玻爾茲曼定律來描述。

　　2、多波段測溫法

　　依次取多個波段，通過計算這些波段輻射功率之間的復(fù)雜關(guān)系來確定物體的溫度。

　　3、雙波段測溫法

　　根據(jù)測量兩個給定波長K1和K2的輻射功率之比，用黑體定標(biāo)的儀器來確定物體的溫度，適合測量發(fā)射率變化或未知的物體，但只適合于測量輻射能量密度大的高溫物體。這3種方法均由普朗克定律來描述。

　　4、亮度測溫法

　　根據(jù)測量給定波長K0附近一窄光譜范圍的輻射用黑體定標(biāo)的儀器來確定物體的溫度，適用于高溫測量。

　　5、大波長測溫法

　　由維恩位移定律，黑體輻射峰值波長Kmax與溫度T之積為一常數(shù)，通過測量峰值波長Kmax來計算溫度T。此法常用測量*溫(大于2000°C)。由此可見，非接觸紅外測溫有以下的缺點：測得的溫度值是測量對象的表面溫度，且必須用發(fā)射率進行修正，增加了測量的復(fù)雜性；周圍介質(zhì)的影響引起測量誤差。

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助大家更好的了解本儀器，同時也歡迎大家持續(xù)關(guān)注本站，小編會定期為大家?guī)砀嗟南嚓P(guān)產(chǎn)品知識介紹。